正負取樣保持電路 POSITIVE/NEGATIVE SAMPLING AND HOLDING CIRCUIT
申請人· 禾瑞亞科技股份有限公司 EGALAX_EMPIA TECHNOLOGY INC. 臺北市內湖區瑞光路302號11樓 TW


專利信息

專利名稱 正負取樣保持電路
公告號 I517591
公告日 2016/01/11
證書號 I517591
申請號 2012/01/05
國際專利分類號
公報卷期 43-02
發明人 張欽富 CHANG, CHIN FU; 林光輝 LIN, GUANG HUEI
申請人 禾瑞亞科技股份有限公司 EGALAX_EMPIA TECHNOLOGY INC. 臺北市內湖區瑞光路302號11樓 TW
代理人 侯慶辰
優先權 美國 61/564,995 20111130
參考文獻 CN101040441A; US2011/0279148A1
審查人員 陳臆聰

專利摘要

本發明揭露一種正負取樣保持電路,包括:一運算放大器;一第一電容;一第二電容,與此第一電容並聯且與此運算放大器形成一積分電路;以及複數個放電開關,分別對應連接於此第一、第二電容的放電路徑,控制此第一、第二電容同時對應輸出一第一取樣信號及一第二取樣信號,其中此第一、第二取樣信號大小相同且極性相反。


專利範圍

1.一種正負取樣保持電路,包括:一運算放大器,具有一第一輸入、一第二輸入及一輸出,其中該第一輸入電性耦合一取樣輸入且該第二輸入電性耦合一參考電壓;一第一電容,具有一第一端及一第二端,其中該第一端經由一第一開關電性耦合該第一輸入,該第二端經由一第二開關電性耦合該輸出;以及一第二電容,具有一第三端及一第四端,其中該第三端經由一第三開關電性耦合該第一輸入,該第四端經由一第四開關電性耦合該輸出,其中,該第二端更經由一第五開關電性耦合該參考電壓,該第一端更經由一第六開關電性耦合一第一取樣輸出,該第四端更經由一第七開關電性耦合一第二取樣輸出,該第三端更經由一第八開關電性耦合該參考電壓。 2.根據申請專利範圍第1項之正負取樣保持電路,其更包括一第九開關與該第一電容並聯。 3.根據申請專利範圍第1項之正負取樣保持電路,其更包括一第十開關與該第二電容並聯。 4.根據申請專利範圍第1項之正負取樣保持電路,其更包括一第十一開關串聯於該取樣輸入與該第二輸入之間。


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專利資訊及圖示來源: 中華民國專利資訊檢索系統