電子裝置、影像擷取裝置及其方法 ELECTRONIC APPARATUS, IMAGE CAPTURING APPARATUS AND METHOD THEREOF
申請人· 華晶科技股份有限公司 ALTEK CORPORATION 新竹市新竹科學工業園區力行路12號 TW


專利信息

專利名稱 電子裝置、影像擷取裝置及其方法
公告號 201233160
公告日
證書號
申請號 2011/01/25
國際專利分類號
公報卷期 10-15
發明人 周詹閔 CHOU, CHAN MIN
申請人 華晶科技股份有限公司 ALTEK CORPORATION 新竹市新竹科學工業園區力行路12號 TW
代理人 李國光; 張仲謙
優先權
參考文獻
審查人員

專利摘要

電子裝置、影像擷取裝置及其方法簡圖

本發明係揭露一種電子裝置、影像擷取裝置及其方法。影像擷取裝置係包含一影像擷取模組以及一處理模組,影像擷取模組係擷取一影像,該影像係包含複數個像素;處理模組係查詢一查找表後對該些像素進行旋轉校正或傾斜校正,以輸出一校正影像。


專利範圍

1.一種影像擷取裝置,其包含: 一儲存模組,該儲存模組係儲存一查找表; 一影像擷取模組,係擷取一影像,且該影像包含複數個像素;以及 一處理模組,係查詢該查找表後對該複數個像素進行一旋轉校正或一傾斜校正,以輸出一校正影像。
2.如申請專利範圍第1項所述之影像擷取裝置,其中該處理模組係以像素映射、內插補點或外插補點的方式對該些像素進行該旋轉校正。
3.如申請專利範圍第1項所述之影像擷取裝置,其中該傾斜校正係包含一對焦校正以及一梯形校正。
4.如申請專利範圍第3項所述之影像擷取裝置,其中該處理模組係以銳利化的方式對該些像素進行該對焦校正。
5.如申請專利範圍第3項所述之影像擷取裝置,其中該處理模組係以像素映射、內插補點或外插補點的方式對該些像素進行該梯形校正。
6.如申請專利範圍第2項或第5項所述之影像擷取裝置,其中該查找表係包含各該像素校正前後之位置座標的對應關係。
7.一種影像擷取方法,其包含下列步驟: 以一儲存模組儲存一查找表; 以一影像擷取模組擷取一影像,且該影像包含複數個像素;以及 以一處理模組查詢該查找表後對該複數個像素進行一旋轉校正或一傾斜校正,以輸出一校正影像。
8.如申請專利範圍第7項所述之影像擷取方法,其中該處理模組係以像素映射、內插補點或外插補點的方式對該些像素進行該旋轉校正。
9.如申請專利範圍第7項所述之影像擷取方法,其中該傾斜校正係包含一對焦校正以及一梯形校正。
10.如申請專利範圍第9項所述之影像擷取方法,其中該處理模組係以銳利化的方式對該些像素進行該對焦校正。
11.如申請專利範圍第9項所述之影像擷取方法,其中該處理模組係以像素映射、內插補點或外插補點的方式對該些像素進行該梯形校正。
12.如申請專利範圍第8項或第11項所述之影像擷取方法,其中該查找表係包含各該像素校正前後之位置座標的對應關係。
13.一種電子裝置,其包含: 一輸入模組,係接受操作後提供一操作指令; 一儲存模組,該儲存模組係儲存一查找表; 一影像擷取模組,係擷取一影像,且該影像包含複數個像素;以及 一處理模組,係根據該操作指令控制該影像擷取模組擷取該影像,並進一步查詢該查找表後對該複數個像素進行一旋轉校正或一傾斜校正,以輸出一校正影像;以及 一顯示模組,係顯示該校正影像。
14.如申請專利範圍第13項所述之電子裝置,其中該處理模組係以像素映射、內插補點或外插補點的方式對該些像素進行該旋轉校正。
15.如申請專利範圍第13項所述之電子裝置,其中該傾斜校正係包含一對焦校正以及一梯形校正。
16.如申請專利範圍第15項所述之電子裝置,其中該處理模組係以銳利化的方式對該些像素進行該對焦校正。
17.如申請專利範圍第15項所述之電子裝置,其中該處理模組係以像素映射、內插補點或外插補點的方式對該些像素進行該梯形校正。
18.如申請專利範圍第14項或第17項所述之電子裝置,其中該查找表係包含各該像素校正前後之位置座標的對應關係。


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專利資訊及圖示來源: 中華民國專利資訊檢索系統