鑽針檢測儀器之鑽針夾具改良結構 A TONGS STRUCTURES IMPROVING OF DRILL INSPECT INSTRUMENT
申請人· 邱博洪 CHIU, PAUL P.H. 臺北市萬華區莒光路二五一號四樓


專利信息

專利名稱 鑽針檢測儀器之鑽針夾具改良結構
公告號 M249749
公告日 2004/11/11
證書號 M249749
申請號 2003/10/17
國際專利分類號
公報卷期 31-32
發明人 邱博洪 CHIU, PAUL P.H.
申請人 邱博洪 CHIU, PAUL P.H. 臺北市萬華區莒光路二五一號四樓
代理人 劉活木
優先權
參考文獻
審查人員

專利摘要

鑽針檢測儀器之鑽針夾具改良結構簡圖

一種鑽針檢測儀器之鑽針夾具改良結構,主要是在底座上設置一個向上頂出的頂出器,而於活動夾臂的旋開端部設有一定位段階,並在定位段階底面形成一凹陷之卡溝;當活動夾臂向固定夾臂旋轉而夾持被檢測鑽針時,定位段階底面之卡溝與底座之頂出器相干涉,使得活動夾臂被定位而夾持鑽針。經此,由於頂出器是固定在底面上的,則活動夾臂在相對固定夾臂旋開時,不會與底面接觸,以改善習知結構頂出器磨耗底座發生刮痕之問題。


專利範圍

1.一種鑽針檢測儀器之鑽針夾具改良結構,其係包括:
一底座,係為可安裝至鑽針檢測儀之滑軌上,
一固定夾臂,係為長條狀固定於上述底座表面上,
一活動夾臂,具有一設置在上述固定夾臂一端面的轉軸結構,使其得以該轉軸為中心相對上述固定夾臂旋轉而成開啓位置或夾持被檢測鑽針之夾持位置;
一頂出器,係相對於上述固定夾臂轉軸結構之另一端面而埋設於底座內,且其彈性頂面突出於底座上表面,
一卡溝,設置於活動夾臂之旋開端部底面,
上述活動夾臂向固定夾臂旋轉而至夾持鑽針之夾持位置時,頂出器之彈性頂面與活動夾臂底面之卡溝相干涉,而固定活動夾臂於夾持位置。
2.依據申請專利範圍第1項所述之鑽針檢測儀器之鑽針夾具改良結構,其中活動夾臂旋開端部進一步設置一定位段階,而卡溝則設置於該定位段階的底面。
3.依據申請專利範圍第1項所述之鑽針檢測儀器之鑽針夾具改良結構,其中定位段階係以一鎖螺自活動夾臂端部上方鎖固,並以另一鎖螺自定位段階端面橫向鎖固旋活動夾臂端面。
4.依據申請專利範圍第1項所述之鑽針檢測儀器之鑽針夾具改良結構,其中卡溝至少有一面為斜面。
5.依據申請專利範圍第1、2、3或4項所述之鑽針檢測儀器之鑽針夾具改良結構,其中固定夾臂前緣以鎖螺鎖固一導勾,以導引呈直線排列的被檢測鑽針置入。
6.依據申請專利範圍第1、2、3或4項所述之鑽針檢測儀器之鑽針夾具改良結構,其中底座表面上設置一止擋塊以限制活動夾臂的最大開啓位置。
圖式簡單說明:
第一圖代表習知鑽針檢測儀器之立體外觀圖,
第二圖代表習知鑽針檢測儀器之鑽針夾具立體外觀圖,其中活動夾臂在開啓位置,
第三圖代表習知鑽針檢測儀器之鑽針夾具部分剖開立體外觀圖,其中活動夾臂係被旋轉至夾持位置,
第四圖代表本創作之鑽針檢測儀器之立體外觀圖,
第五圖代表本創作鑽針夾具之立體分解圖,
第六圖代表本創作鑽針夾具之組合圖,其中活動夾臂係被旋轉至夾持位置,
第七圖代表本創作鑽針夾具之組合圖,其中活動夾臂係在開啓位置,
第八圖代表本創作鑽針夾具之剖面視圖,
第九圖代表沿第八圖99剖面線之剖面圖。


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專利資訊及圖示來源: 中華民國專利資訊檢索系統