驅動能力與晶片終端電阻値自我調校方法及其裝置 METHOD AND APPARATUS FOR SELF-CALIBRATION OF DRIVING CAPABILITY AND RESISTANCE OF ON-DIE TERMINATIO
申請人· 聯詠科技股份有限公司 NOVATEK MICROELECTRONICS CORP. 新竹縣新竹科學工業園區創新一路13號2樓 TW


專利信息

專利名稱 驅動能力與晶片終端電阻値自我調校方法及其裝置
公告號 I517565
公告日 2016/01/11
證書號 I517565
申請號 2013/03/11
國際專利分類號
公報卷期 43-02
發明人 莊曜誠 CHUANG, YAO CHENG; 黃一桓 HUANG, I HUAN
申請人 聯詠科技股份有限公司 NOVATEK MICROELECTRONICS CORP. 新竹縣新竹科學工業園區創新一路13號2樓 TW
代理人 詹銘文; 葉璟宗
優先權
參考文獻 TW200952321A; US4815113A; US7180380B2; US20050001650A1
審查人員 蘇齊賢

專利摘要

一種驅動能力與晶片終端電阻值自我調校方法及其裝置。此裝置包括輸出介面實體層及環形振盪器。輸出介面實體層接收一操作電壓。環形振盪器圍繞輸出介面實體層,以感測輸出介面實體層的一工作溫度或操作電壓以提供一感測結果。輸出介面實體層的驅動能力或晶片上終端電阻的電阻值依據感測結果調整。


專利範圍

1.一種驅動能力與晶片終端電阻值自我調校裝置,包括:一輸出介面實體層,接收一操作電壓;以及一環形振盪器,圍繞該輸出介面實體層,以感測該輸出介面實體層的一工作溫度或該操作電壓以提供一感測結果,其中該輸出介面實體層的驅動能力或晶片上終端電阻(on-die termination,ODT)的電阻值依據該感測結果調整。 2.如申請專利範圍第1項所述的裝置,更包括:一計數器,耦接該環形振盪器,以依據該環形振盪器提供的一時脈信號進行計數,其中該計數器所提供的一計數值對應該環形振盪器的該感測結果。 3.如申請專利範圍第2項所述的裝置,其中該輸出介面實體層具有一驅動能力暫存器及一電阻值暫存器,用以決定該輸出介面實體層的驅動能力及該晶片上終端電阻的電阻值。 4.如申請專利範圍第3項所述的裝置,更包括:一控制單元,耦接該輸出介面實體層及該計數器,以比較一參考計數值及該計數器所提供的該計數值,並依據比較結果調整該驅動能力暫存器及該電阻值暫存器的數值。 5.如申請專利範圍第4項所述的裝置,其中當該計數值等於該參考計數值時,該控制單元不調整該驅動能力暫存器及該電阻值暫存器的數值,當該計數值等大於該參考計數值時,該控制單元調整該驅動能力暫存器或該電阻值暫存器的數值以降低該輸出介面實體層的驅動能力或提高該晶片上終端電阻的電阻值,當該計數值小於該參考計數值時,該控制單元調整該驅動能力暫存器或該電阻值暫存器的數值以提高該輸出介面實體層的驅動能力或降低該晶片上終端電阻的電阻值。 6.如申請專利範圍第4項所述的裝置,更包括:一記憶元件,耦接該控制單元,用以儲存該參考計數值。 7.如申請專利範圍第4項所述的裝置,其中該參考計數值為該輸出介面實體層於一室溫及該操作電壓為一額定電壓,該計數器所提供的該計數值。 8.一種驅動能力與晶片終端電阻值自我調校裝置,包括:一輸出介面實體層,接收一操作電壓;以及多個環形振盪器,圍繞該輸出介面實體層,以感測該輸出介面實體層的一工作溫度或該操作電壓以提供一感測結果,其中該輸出介面實體層的驅動能力或晶片上終端電阻(on-die termination,ODT)的電阻值依據該感測結果調整;多個計數器,分別耦接該些環形振盪器,以依據該些環形振盪器提供的多個時脈信號分別進行計數,並且分別提供多個計數值;以及一平均器,耦接該些計數器,以依據該些計數器所提供的該些計數值計算一平均計數值,


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專利資訊及圖示來源: 中華民國專利資訊檢索系統