振盪器校正電路與方法以及積體電路 CIRCUIT AND METHOD FOR CALIBRATING OSCILLATOR AND CORRESPONDING INTEGRATED CIRCUIT
申請人· 新唐科技股份有限公司 NUVOTON TECHNOLOGY CORPORATION 新竹市新竹科學工業園區研新三路4號 TW


專利信息

專利名稱 振盪器校正電路與方法以及積體電路
公告號 I517552
公告日 2016/01/11
證書號 I517552
申請號 2013/01/31
國際專利分類號
公報卷期 43-02
發明人 游宗榜 YU, CHANG PANG
申請人 新唐科技股份有限公司 NUVOTON TECHNOLOGY CORPORATION 新竹市新竹科學工業園區研新三路4號 TW
代理人 詹銘文; 葉璟宗
優先權
參考文獻 TW200419895A; US7541878B2; US7800457B2; US7898890B2; US20110193639B2
審查人員 蘇齊賢

專利摘要

一種振盪器校正電+路,包括振盪器、校正模組、以及燒錄模組。振盪器輸出振盪時脈訊號,而且包括多個阻抗元件。其中一校正值控制至少一個上述阻抗元件的阻抗值,而上述多個阻抗元件的阻抗值決定振盪時脈訊號的頻率。校正模組耦接振盪器,在校正訊號設立之後,根據振盪時脈訊號和參考時脈訊號的頻率倍數關係,決定並輸出校正值。燒錄模組耦接校正模組,包括一非揮發記憶體。燒錄模組在燒錄訊號設立之後將校正值燒錄至非揮發記憶體。


專利範圍

1.一種振盪器校正電路,其中該振盪器校正電路內建於一積體電路中,包括:一振盪器,輸出一振盪時脈訊號,包括多個阻抗元件,其中一校正值控制至少一個上述阻抗元件的阻抗值,而上述多個阻抗元件的阻抗值決定該振盪時脈訊號的頻率;一校正模組,耦接該振盪器,在一校正訊號設立之後,根據該振盪時脈訊號和一參考時脈訊號的頻率倍數關係,決定並輸出該校正值;以及一燒錄模組,耦接該校正模組,包括一非揮發記憶體,在一燒錄訊號設立之後將該校正值燒錄至該非揮發記憶體;其中,該參考時脈訊號、該校正訊號、以及該燒錄訊號來自該積體電路之外的一測試機台。 2.如申請專利範圍第1項所述的振盪器校正電路,其中每一上述阻抗元件為電阻或電容,該些阻抗元件為電阻與電容之組合。 3.如申請專利範圍第1項所述的振盪器校正電路,其中該校正模組包括:一比較模組,耦接該振盪器,在該校正訊號設立之後根據該頻率倍數關係輸出一比較值;一搜尋控制電路,耦接該比較模組,輸出一校正值,並以該比較值逐步取代該校正值的每一位元;以及一第一正反器,耦接該搜尋控制電路,栓鎖並輸出該校正值。 4.如申請專利範圍第3項所述的振盪器校正電路,其中該比較模組包括:一期望值單元,提供一期望值;一頻率計數器,耦接該振盪器,在該校正訊號設立之後,計算該參考時脈訊號的一個週期之中,該振盪時脈訊號的週期數,並輸出該週期數;以及一比較器,耦接該期望值單元、該頻率計數器、以及該搜尋控制電路,根據該週期數和該期望值的比較結果輸出該比較值。 5.如申請專利範圍第1項所述的振盪器校正電路,其中該燒錄模組在該振盪器所屬的積體電路啟動之後輸出該非揮發記憶體儲存的該校正值,而且該振盪器校正電路更包括:一多工器,耦接該振盪器、該校正模組、以及該燒錄模組,根據該校正訊號或一控制訊號在該校正模組和該燒錄模組輸出的上述校正值其中擇一輸入該振盪器。 6.如申請專利範圍第5項所述的振盪器校正電路,其中該燒錄模組更包括:一燒錄控制電路,耦接該校正模組和該非揮發記憶體,在該燒錄訊號設立之後將該校正值燒錄至該非揮發記憶體;以及一第二正反器,耦接該非揮發記憶體和該多工器,在該積體電路啟動之後載入並輸出該非揮發記憶體儲存的該校正值。 7.一種積體電路,包括一振盪器校正電路,其中該振盪器校正電路包括:一振盪器,輸出一振盪時脈訊號,包括多個阻抗元件,其中一校正值控制至少一個上述阻抗元件的阻抗值,而上述多個


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專利資訊及圖示來源: 中華民國專利資訊檢索系統