檢測設備



  • 使用視覺系統之電子產品檢測設備

    公告號:200419162 - 正道技術股份有限公司 RIGHT-TEK SYSTEM CO., LTD. 韓國

    1.一種電子產品外觀檢測設備,包括:一旋轉盤;一供應裝置,用以連續供應多數個電子產品至該旋轉盤;一對位裝置,具有一第一對位器,該第一對位器內具有一通道,該通道係用以導引該些電子產品,以使該些電子產品置放於該旋轉盤上之一檢測軌道上;以及一照相裝置,用以對該檢測軌道上之該些電子產品的每一面進行拍照。 2

  • 玻璃基板檢測設備以及方法

    公告號:200426359 - 碧悠國際光電股份有限公司 PICVUE OPTOELECTORNICS INTERNATIONAL, INC. 新竹縣竹東鎮中興路四段三七二之二號

    1.一種玻璃基板檢測設備,係用以檢測一玻璃基板之瑕疵,該玻璃基板檢測設備包含:一屏幕;一光源,係用以供應一可見光,以照射該玻璃基板,該可見光會穿透該玻璃基板,並投射至該屏幕表面;一夾具,係用以挾持該玻璃基板,並調整該玻璃基板與該可見光行進方向成一預定角度,以使該可見光投射經過該瑕疵,以投影至該屏幕形

  • 玻璃基板檢測設備以及玻璃基板檢測設備的操作方法

    公告號:200426355 - 碧悠國際光電股份有限公司 PICVUE OPTOELECTORNICS INTERNATIONAL, INC. 新竹縣竹東鎮中興路四段三七二之二號

    1.一種玻璃基板檢測設備,係於該玻璃基板檢測設備之檢測端來檢測一玻璃基板,該玻璃基板檢測設備包含:一第一軌道,係用以將來自該玻璃基板檢測設備之一側邊外側之外軌道上之玻璃基板,藉由該第一軌道輸送至該玻璃基板檢測設備另一側邊外側之外軌道,此時該第一軌道以及該外軌道皆位於一輸送軌道空間,於停止輸送該玻璃基

  • 用於半導體構裝暨檢測設備取置工件之壓力檢知驅動控制方法

    公告號:200501295 - 竑騰科技股份有限公司 高雄縣鳳山市瑞大街五十二巷九號

    1.一種用於半導體構裝暨檢測設備取置工件之壓力檢知驅動控制方法,其係使用一組受控於設備中之電腦可於機台橫移之取置裝置,該取置裝置於其可被驅動升降的升降座上設有壓力感測元件,該壓力感測元件並以軸桿結合具有自動傾斜調整功用之浮動連接器連接取置器,用以取置工件,該取置裝置取置工件之驅動控制步驟包括有:以電

  • 離子束入射角偏移之檢測設備及方法

    公告號:200506321 - 茂德科技股份有限公司 PROMOS TECHNOLOGIES INC. 新竹市新竹科學工業園區力行路十九號三樓

    1.一種離子束入射角偏移之檢測方法,適用於一離子束植入設備,該方法包括:裝設一離子束感測裝置於該離子束植入設備之一晶圓固定裝置之一側,該離子束感測裝置成筒狀,且開口朝向離子束發射源,在該離子束感測裝置底部設置有一感測器;發射一離子束朝向該離子束感測裝置;以該離子束感測裝置量測該離子束之一第一電流值;

  • 製造接觸器之方法,以此方法製得之接觸器,及具有接觸器之電子設備式檢測設備

    公告號:200521441 - 住友電氣工業股份有限公司 SUMITOMO ELECTRIC INDUSTRIES, LTD. 日本

    1.一種製造具有螺旋彈簧結構之柱型接觸器方法,該接觸器的形狀可因被下壓至電子設備或檢測設備之一凸面而變形,使得介於接觸器與凸面電極間之電氣連續得以達成,該方法包括下列步驟:使用一金屬模形成一塑膠模(阻抗結構),與形成一覆層,其由塑膠模(阻抗結構)中金屬材質組成,並以電積形成方式形成。 2.一種製造具

  • 貼膜/檢測設備

    公告號:200521026 - 陞達科技股份有限公司 SENTELIC CORPORATION 臺北縣新莊市五權二路24號8樓之4

    1.一種貼膜/檢測設備,適於對至少一觸控板進行貼膜及檢測,其中該觸控板之底面具有複數個接點,該貼膜/檢測設備包括:一傳送機構,具有至少一輸入端及至少一輸出端,其中該觸控板係承載於該傳送機構上,並藉由該傳送機構的傳送,使該觸控板由該輸入端向該輸出端之一傳送路徑移動;一貼膜裝置,配置於該傳送機構之上方,

  • 製造渦狀突起接觸器之方法,以此方法製得之接觸器,及具有渦狀突起接觸器之電子設備或檢測設備

    公告號:200525153 - 住友電氣工業股份有限公司 SUMITOMO ELECTRIC INDUSTRIES, LTD. 日本

    1.一種製造一渦狀突起接觸器,以獲得與電子設備或檢測設備之一電極之電氣連續性的方法,該方法包括下列步驟:使用一金屬模形成一塑膠模(阻抗結構);形成一覆層,其由塑膠模(阻抗結構)中金屬材質組成,並以電積形成方式形成;以及執行一由金屬材質組成之覆層所製成的金屬微結構凸面之形成步驟,以形成一向外渦狀突起之

  • 液晶顯示器模組之檢測設備

    公告號:200528697 - 群創光電股份有限公司 INNOLUX DISPLAY CORP. 苗栗縣竹南鎮新竹科學工業園區科東三路16號2樓

    1.一種液晶顯示器模組之檢測設備,其包括:一底座,係用以安置於一作業平面上;一連接裝置,設置於該底座上;一置放平臺,連接於該連接裝置上,用以放置液晶顯示器模組;及一電器固持裝置,設置於該置放平臺下方,用以固持連接液晶顯示器模組導線之連接器及電源開關。 2.如申請專利範圍第1項所述之液晶顯示器模組之檢

  • 背光模組檢測設備

    公告號:200530608 - 群創光電股份有限公司 INNOLUX DISPLAY CORP. 苗栗縣竹南鎮新竹科學工業園區科東三路16號2樓

    1.一種背光模組檢測設備,其包括:一檢測工作台;一翻蓋裝置;一可移動發光二極體單元;一可移動電極夾;一背光模組定位機構,係固定定位待測之背光模組;其中,該翻蓋裝置包括一發光二極體、一翻蓋及二滑塊,該發光二極體固定於該翻蓋上,該翻蓋通過活動連接機構樞結於該二滑塊上,該二滑塊可於該檢測工作台上之特定範圍

  • 不著火檢測設備

    公告號:200624664 - 本田技研工業股份有限公司 HONDA MOTOR CO., LTD. 日本

    1.一種用於一引擎之不著火檢測設備,該設備包括:確定構件,其用於根據一藉由對由該引擎一缸中之燃燒所產生的一壓力分量實施建模而獲得之參考信號與自一設置於該引擎該缸中之壓力感測器的輸出獲得之缸壓力的關聯性來確定一燃燒參數,該參考信號與該缸中之該燃燒同步;及檢測構件,其用於根據該燃燒參數來檢測該引擎之一不

  • 用於檢測液晶顯示器陣列的檢測方法及其檢測設備

    公告號:200627001 - 廣輝電子股份有限公司 QUANTA DISPLAY INC. 桃園縣龜山鄉華亞二路189號

    1.一種檢測設備,用於檢測一液晶顯示器陣列的一缺陷,包括:一主腔體;一檢測平台,設於該主腔體之中,用於置放該液晶顯示器陣列;一檢測裝置,設於該主腔體之中,以檢測該液晶顯示器陣列之電性;以及一主加熱裝置,將該液晶顯示器陣列加熱至一第一溫度,以顯現該液晶顯示器陣列之該缺陷。 2.如申請專利範圍第1項所述

  • 下拉檢測設備及下拉檢測方法

    公告號:200633527 - NEC電子股份有限公司 NEC ELECTRONICS CORPORATION 日本

    1.一種下拉檢測設備,用以檢測輸入視頻訊號是否由下拉處理所產生,該設備包含:一像素比較器,至少施行包含於該輸入視頻訊號中之第一場域與該第一場域前一場域之第二場域間之像素比較,以及判斷該第一場域與該第二場域之間是否存在像素變化;一場域比較器,編譯在該像素比較器中之判斷結果,並基於在該像素比較器中之該判

  • 下拉檢測設備及下拉檢測方法

    公告號:200633526 - NEC電子股份有限公司 NEC ELECTRONICS CORPORATION 日本

    1.一種下拉檢測設備,用以檢測輸入視頻訊號是否由下拉處理所產生,該設備包含:一像素比較器,至少施行包含於該輸入視頻訊號中之第一場域與該第一場域前一場域之第二場域間之像素比較、以及在該第一場域及/或該第二場域中之水平像素比較,以判斷該第一場域與該第二場域間是否存在像素變化;一場域比較器,編譯在該像素比

  • 下拉檢測設備及下拉檢測方法

    公告號:200633499 - NEC電子股份有限公司 NEC ELECTRONICS CORPORATION 日本

    1.一種下拉檢測設備,用以檢測輸入視頻訊號是否由下拉處理所產生,該設備包含:一像素比較器,至少施行包含於該輸入視頻訊號中之第一場域與該第一場域前一場域之第二場域間之像素比較,以及判斷在該第一場域與該第二場域間之像素差值;一場域比較器,藉由根據在該場域中之像素位置來劃分該結果,以編譯在該像素比較器中之