收容單元及電子零件搬運裝置
申請人· 上野精機股份有限公司 UENO SEIKI CO., LTD. 日本 JP


專利信息

專利名稱 收容單元及電子零件搬運裝置
公告號 201607842
公告日
證書號
申請號 2015/04/01
國際專利分類號
公報卷期 14-05
發明人 南日出夫 MINAMI, HIDEO; 木村浩之 KIMURA, HIROYUKI
申請人 上野精機股份有限公司 UENO SEIKI CO., LTD. 日本 JP
代理人 林志剛
優先權 世界智慧財產權組織 PCT/JP2014/059979 20140404 世界智慧財產權組織 PCT/JP2015/058716 20150323
參考文獻
審查人員

專利摘要

目的在於提供一種收容單元及電子零件搬運裝置,對於載帶或托盤或晶圓黏片等收容體,即使在收容處的形成位置存在有製造誤差,仍能適當地收容電子零件。捲帶單元(2),具有和收容位置(P1)為不同位置之錯位確認位置(P2),藉由令載帶(T)走行,使各口袋(T1)經由錯位確認位置(P2)而位於收容位置(P1)。在錯位確認位置(P2),以第2攝像部(27)拍攝口袋(T1),並分析第2攝像部(27)所拍攝的圖像,檢測口袋(T)相對於基準位置及基準方向之錯位。然後,藉由修正部(25),令載帶(T)平面移動及旋轉,以便在被檢測出錯位的口袋(T1)於收容位置(P1)收容電子零件(D)之前,消弭該口袋(T1)的錯位。


專利範圍

1.一種收容單元,係保持具有多數個收容處之收容體,並將沿著搬運路徑搬運之電子零件在收容位置予以收容之收容單元,其特徵為,具備:第1移動手段,令前述收容體平面移動,使前述各收容處位於前述收容位置;收容處攝像手段,在前述收容位置或在到達前述收容位置前拍攝前述收容處;收容處錯位檢測手段,分析前述收容處攝像手段拍攝之圖像而檢測前述收容處之錯位;第2移動手段,在將前述電子零件收容至被檢測出錯位之前述收容處前,令前述收容體平面移動以消弭該收容處之錯位。 2.如申請專利範圍第1項所述之收容單元,其中,更具備:零件攝像手段,在前述搬運路徑上拍攝前述電子零件;零件位置檢測手段,分析前述零件攝像手段拍攝之圖像而檢測前述電子零件相對於基準位置之錯位;第3移動手段,令前述電子零件平面移動以消弭前述電子零件相對於基準位置之錯位。 3.如申請專利範圍第1項所述之收容單元,其中,更具備:零件攝像手段,在前述搬運路徑上拍攝前述電子零件;零件位置檢測手段,分析前述零件攝像手段拍攝之圖像以檢測前述電子零件的位置;前述收容處錯位檢測手段,依據前述零件位置檢測手段檢測出之前述電子零件的位置和前述收容處攝像手段拍攝之圖像,檢測前述收容處相對於前述電子零件之錯位,前述第2移動手段,令前述收容體平面移動以消弭前述收容處相對於前述電子零件之錯位。 4.如申請專利範圍第1項至第3項中任一項所述之收容單元,其中,前述第2移動手段,僅當前述收容處的內壁和前述電子零件接近至規定距離以內的情形下,消弭前述收容處之錯位。 5.如申請專利範圍第4項所述之收容單元,其中,前述第2移動手段,僅當藉由前述收容處錯位檢測手段檢測出之前述收容處之錯位為規定以上的情形下,消弭前述收容處之錯位。 6.如申請專利範圍第4項或第5項所述之收容單元,其中,更具備:判定手段,判定前述收容處的內壁和前述電子零件之接近度;驅動控制手段,遵照前述判定手段,控制驅動或不驅動前述第2移動手段所致之錯位消弭。 7.一種電子零件搬運裝置,係沿著搬運路徑搬運電子零件,並將電子零件收容至具有多數個收容處的收容體之電子零件搬運裝置,其特徵為,具備:保持手段,令前述電子零件保持及脫離;搬運平台,於外周具有前述保持手段,且間歇旋轉;收容位置,設定於前述保持手段的停止位置的一處;第1移動手段,令前述收容體平面移動,使前述各收容處位於前述收容位置;收容處攝像手段,在前述收容位


類似專利

公告號 專利名稱 申請人
201412207 編帶單元及電子零件檢查裝置 上野精機股份有限公司 UENO SEIKI CO., LTD. 日本 JP
I478792 保持手段的移動方法、電子零件保持裝置及電子零件搬運裝置 上野精機股份有限公司 UENO SEIKI CO., LTD. 日本 JP
I333928 工件搬運裝置及電子零件搬運裝置 村田製作所股份有限公司 MURATA MANUFACTURING CO., LTD. 日本 JP
I332475 工件搬運裝置及電子零件搬運裝置 村田製作所股份有限公司 MURATA MANUFACTURING CO., LTD. 日本 JP
I232533 位置偵測裝置、位置偵測方法以及電子零件搬運裝置 愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION 日本
201440976 保持手段的移動方法、電子零件保持裝置及電子零件搬運裝置 上野精機股份有限公司 UENO SEIKI CO., LTD. 日本 JP
201343022 異常接觸檢測方法、電子零件保持裝置以及電子零件搬運裝置 上野精機股份有限公司 UENO SEIKI CO., LTD. 日本 JP
200819371 工件搬運裝置及電子零件搬運裝置 村田製作所股份有限公司 MURATA MANUFACTURING CO., LTD. 日本
200815267 工件搬運裝置及電子零件搬運裝置 村田製作所股份有限公司 MURATA MANUFACTURING CO., LTD. 日本
200416935 位置偵測裝置、位置偵測方法以及電子零件搬運裝置 愛德萬測試股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION 日本
I483338 姿勢修正裝置、電子零件搬運裝置及電子零件移載裝置 上野精機股份有限公司 UENO SEIKI CO., LTD. 日本 JP
I333929 工件搬送裝置及電子零件搬送裝置 村田製作所股份有限公司 MURATA MANUFACTURING CO., LTD. 日本 JP
201436086 姿勢修正裝置、電子零件搬運裝置及電子零件移載裝置 上野精機股份有限公司 UENO SEIKI CO., LTD. 日本 JP
200821246 工件搬送裝置及電子零件搬送裝置 村田製作所股份有限公司 MURATA MANUFACTURING CO., LTD. 日本
487670 電子零件搬運裝置 東京威爾斯股份有限公司 日本
I525732 電子零件搬送裝置及包帶單元 上野精機股份有限公司 UENO SEIKI CO., LTD. 日本 JP
I409479 用以測試電子零件之測試部單元、測試頭及電子零件試驗裝置 阿德潘鐵斯特股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION 日本 JP
I320246 同軸電纜單元、元件介面裝置以及電子零件測試裝置 阿德潘鐵斯特股份有限公司 ADVANTEST CORPORATION 日本 JP; 平河福泰克股份有限公司 HIRAKAWA HEWTECH CORPORATION 日本 JP
201447328 電子零件按壓裝置、電子零件按壓單元、電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置 精工愛普生股份有限公司 SEIKO EPSON CORPORATION 日本 JP

專利資訊及圖示來源: 中華民國專利資訊檢索系統