擴散光暨光譜檢測儀器
申請人· 銀宗企業股份有限公司 臺南市仁德區長興一街110巷108號 TW


專利信息

專利名稱 擴散光暨光譜檢測儀器
公告號 M402425
公告日 2011/04/21
證書號 M402425
申請號 2010/11/05
國際專利分類號
公報卷期 38-12
發明人 李正忠; 吳文弘; 李育廷; 李育丞
申請人 銀宗企業股份有限公司 臺南市仁德區長興一街110巷108號 TW
代理人
優先權
參考文獻
審查人員

專利摘要

擴散光暨光譜檢測儀器簡圖

一種整合光擴散量測系統與光譜量測系統於一體,以完整檢測鏡片經耐刮耐磨試驗後之磨損程度的擴散光暨光譜檢測儀器。包含:光源、光束準直模組、擴散光量測模組、光譜量測模組以及數值運算與顯示界面。其中該擴散光量測模組與光譜量測模組可共用光源、光束準直模組以及數值運算與顯示界面等模組。其創作特徵在於:所設計之擴散光量測模組與光束準直模組間之光路中的測試鏡片檢測位置與擴散光量測模組間,設置可易位檢測光譜的收光鏡頭,藉由收光鏡頭的易位切換與測試鏡片檢測位置的配合,得使本創作一體結合擴散光檢測與光譜檢測,而能輕易且迅速的完成完整的鏡片擴散光檢測與鏡片磨損情況檢測效益。


專利範圍

1.一種擴散光暨光譜檢測儀器,係為一種整合擴散光量測系統與光譜量測系統於一體,以完整檢測鏡片經耐刮耐磨試驗後之磨損程度;包含:光源、光束準直模組、擴散光量測模組、光譜量測模組以及數值運算與顯示界面;其創作特徵在於:擴散光量測模組與光束準直模組間之光路中的測試鏡片檢測位置與擴散光量測模組間,設置可易位檢測光譜的收光鏡頭。
2.依申請專利範圍第1項所述之擴散光暨光譜檢測儀器,其中該擴散光量測模組與光譜量測模組可共用光源、光束準直模組以及數值運算與顯示界面模組。
3.依申請專利範圍第1項所述之擴散光暨光譜檢測儀器,其中該收光鏡頭係以導光光纖連接於光譜量測模組。


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專利資訊及圖示來源: 中華民國專利資訊檢索系統