光照射成形裝置及光照射成形方法
申請人· JSR股份有限公司 JSR CORPORATION 日本 JP


專利信息

專利名稱 光照射成形裝置及光照射成形方法
公告號 I529051
公告日 2016/04/11
證書號 I529051
申請號 2011/11/16
國際專利分類號
公報卷期 43-11
發明人 栗原文夫 KURIHARA, FUMIO
申請人 JSR股份有限公司 JSR CORPORATION 日本 JP
代理人 林志剛
優先權 日本 2010-266000 20101130
參考文獻 CN102202855A; WO2007/058184A1; WO2010/047269A1
審查人員 吳建裕

專利摘要

本發明之課題,係提供一種光照射成形裝置及光照射成形方法,即使實施大型‧複雜形狀之成形品的成形、高熔融溫度之熱可塑性樹脂的成形時,也可以實施高尺寸精度、樹脂劣化較少之成形,無需預先將熱可塑性樹脂注入熔融腔室之裝置,以較少之熱可塑性樹脂使用量即可進行成形品之成形。 本發明之解決手段的光照射成形裝置(1),係具有:具有光(X)透射性質之一對橡膠模部(2A、2B);及從一對橡膠模部(2A、2B)之表面,對配置於腔室(20)之粒子狀的熱可塑性樹脂(6A)照射光(X)之光照射手段(4)。光照射成形裝置(1),係以使光照射手段(4)所照射之光(X),從熱可塑性樹脂(6A)已熔融之部位到達熱可塑性樹脂(6A)未熔融之部位的方式,使一對橡膠模部(2A、2B)及光照射手段(4)依序相對移動,而使熱可塑性樹脂(6A)之各部位依序熔融的構成。


專利範圍

1.一種光照射成形裝置,其特徵為,具備:一對之橡膠模部,係由具有光透射性質之橡膠材料所構成,於互相相對之相對面彼此之間,形成腔室;及光照射手段,係從該一對橡膠模部之表面,對配置於上述腔室之粒子狀或固態狀的熱可塑性樹脂照射光;且構成為使該光照射手段所照射之光以從上述熱可塑性樹脂開始熔融之部位或已熔融之部位到達上述熱可塑性樹脂未熔融之部位的方式,使上述一對橡膠模部及上述光照射手段依序相對移動,而使上述熱可塑性樹脂之必須熔融的各部位依序熔融。 2.如申請專利範圍第1項記載之光照射成形裝置,其中該光照射成形裝置,具備變形量檢測手段,以上述變形量檢測手段檢測上述熱可塑性樹脂之各部位熔融及上述一對橡膠模部的變形量,構成為以上述變形量檢測手段檢測上述光照射手段之光所照射之上述一對橡膠模部的部位變形,檢測到該一對橡膠模部之部位變形時,使上述一對橡膠模部及上述光照射手段相對地移動。 3.申請專利範圍第1項記載之光照射成形裝置,其中該光照射成形裝置,具備色彩變化檢測手段,上述色彩變化檢測手段,係檢測上述熱可塑性樹脂之各部位已熔融時之該熱可塑性樹脂的色彩變化,構成為以上述色彩變化檢測手段檢測上述光照射手段之光所照射之上述熱可塑性樹脂之部位色彩,檢測到該熱可塑性樹脂之部位色彩變化時,使上述一對橡膠模部及上述光照射手段相對地移動。 4.如申請專利範圍第1項記載之光照射成形裝置,其中該光照射成形裝置,具備溫度檢測手段,上述溫度檢測手段,係檢測上述熱可塑性樹脂之各部位熔融時之該熱可塑性樹脂的溫度、或位於該熱可塑性樹脂之熔融部位附近之上述橡膠模部的溫度,構成為以上述溫度檢測手段檢測上述光照射手段之光所照射之上述熱可塑性樹脂之部位或上述橡膠模部之部位的溫度,該熱可塑性樹脂之部位或該橡膠模部之部位的溫度上昇至熱可塑性樹脂的熔融溫度以上時,使上述一對橡膠模部及上述光照射手段相對地移動。 5.如申請專利範圍第1至4項中任一項所記載之光照射成形裝置,其中構成為於上述一對橡膠模部之其中任一方之橡膠模部的上述腔室全周,形成框狀或環狀之被嵌入凹部,於上述一對橡膠模部之其中另一方之橡膠模部,形成嵌入於上述被嵌入凹部之框狀或環狀的嵌入凸部,藉由上述嵌入凸部嵌入於上述被嵌入凹部,上述腔室之全周被封閉,上述嵌入凸部,相對於上述被嵌入凹部,從上述熱可塑性樹脂已熔融之部位依序相對滑動,使上述一對橡膠模部一邊變形一邊互相接近。


類似專利

公告號 專利名稱 申請人
I507460 具有低介電常數、高電阻率及光密度性質與經控制電阻率之含有塡料聚合物組合物的塗層、由其製成的裝置及彼等之製造方法 客寶公司 CABOT CORPORATION 美國 US
201500423 具有低介電常數、高電阻率及光密度性質與經控制電阻率之含有塡料聚合物組合物的塗層、由其製成的裝置及彼等之製造方法 客寶公司 CABOT CORPORATION 美國 US
I474388 雷射加工方法、雷射加工裝置及晶片的製造方法 迪思科股份有限公司 DISCO CORPORATION 日本 JP
I458960 白光干涉量測裝置及其干涉量測方法 明新科技大學 MINGHSIN UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY 新竹縣新豐鄉新興路1號 TW
I436037 具自動啟動測距功能之雷射測距裝置及其自動啟動方法 亞洲光學股份有限公司 ASIA OPTICAL CO., INC. 臺中市潭子區臺中加工出口區南二路22之3號 TW
I302126 雷射標記方法、雷射標記裝置及標記偵測之方法與裝置 東芝股份有限公司 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 日本
569203 光學拾波器裝置及傾斜量檢測方法 帕歐尼亞股份有限公司 日本
201339564 白光干涉量測裝置及其干涉量測方法 明新科技大學 MINGHSIN UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY 新竹縣新豐鄉新興路1號 TW
201337649 光學式輸入裝置及其輸入偵測方法 原相科技股份有限公司 PIXART IMAGING INC. 新竹縣新竹科學工業園區創新一路5號5樓 TW
201241695 光學式觸控裝置及其物件辨識方法 宏碁股份有限公司 ACER INCORPORATED 新北市汐止區新台五路1段88號8樓 TW
201239709 光學式觸控裝置及其遮蔽辨識方法 宏碁股份有限公司 ACER INCORPORATED 新北市汐止區新台五路1段88號8樓 TW
201219753 具自動啟動測距功能之雷射測距裝置及其自動啟動方法 亞洲光學股份有限公司 ASIA OPTICAL CO., INC. 臺中市潭子區臺中加工出口區南二路22之3號 TW
201211860 光學式觸控裝置及其觸碰感測方法 原相科技股份有限公司 PIXART IMAGING INC. 新竹市新竹科學工業園區創新一路5號5樓 TW
201117276 雷射加工方法、雷射加工裝置及晶片的製造方法 迪思科股份有限公司 DISCO CORPORATION 日本 JP
200947692 製造固態成像裝置及電子設備之方法 新力股份有限公司 SONY CORPORATION 日本 JP
200806807 成膜裝置之排氣系統構造、成膜裝置及排氣之處理方法 東京威力科創股份有限公司 TOKYO ELECTRON LIMITED 日本
200538304 雷射標記方法、雷射標記裝置及標記偵測之方法與裝置 東芝股份有限公司 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 日本
I438074 光照射成形裝置及光照射成形方法 JSR股份有限公司 JSR CORPORATION 日本 JP
201238743 光照射成形裝置及光照射成形方法 大科能樹脂有限公司 TECHNO POLYMER CO., LTD. 日本 JP

專利資訊及圖示來源: 中華民國專利資訊檢索系統