判定描述參考方塊移動的移動向量的方法及其儲存媒體 METHOD FOR DETERMINING A MOTION VECTOR DESCRIBING MOTION REALTIVE TO A REFERENCE BLOCK AND STORAGE
申請人· 威盛電子股份有限公司 VIA TECHNOLOGIES, INC. 臺北縣新店市中正路535號8樓


專利信息

專利名稱 判定描述參考方塊移動的移動向量的方法及其儲存媒體
公告號 200803527
公告日
證書號
申請號 2007/06/15
國際專利分類號
公報卷期 06-01
發明人 薩伊德 荷聖 ZAHID HUSSAIN
申請人 威盛電子股份有限公司 VIA TECHNOLOGIES, INC. 臺北縣新店市中正路535號8樓
代理人 洪澄文;顏錦順
優先權 美國 60/814,623 20060616
參考文獻
審查人員

專利摘要

一種判定描述相對於一參考方塊之移動的一移動向量的方法,該方法包含:根據一相符標準,判定複數個預測方塊中哪一個與該參考方塊有一較佳相符;執行一局部區域徵底搜尋以產生與該參考方塊的一最佳相符,該局部區域徹底搜尋在以該較佳相符預測方塊為中央之周圍之一區域,該最佳相符具有整數像素解析度;將該最佳相符與該參考方塊間相符的程度建模為一二次表面;分析地判定該二次表面的一最小値,該最小値對應有分數解析度的一最佳相符方塊;以及根據該有分數解析度的最佳相符方塊計算一分數移動向量。


專利範圍

1.一種判定描述相對於一參考方塊之移動的一移動向量的方法,該方法包含:根據一相符標準,判定複數個預測方塊中哪一個與該參考方塊有一較佳相符;執行一局部區域徹底搜尋以產生與該參考方塊的一最佳相符,該局部區域徹底搜尋在以該較佳相符預測方塊為中央之周圍之一區域,該最佳相符具有整數像素解析度;將該最佳相符與該參考方塊間相符的程度建模為一二次表面;分析地判定該二次表面的一最小值,該最小值對應有分數解析度的一最佳相符方塊;以及根據該有分數解析度的最佳相符方塊計算一分數移動向量。 2.如申請專利範圍第1項之判定描述相對於該參考方塊之移動的該移動向量的方法,其中該判定複數個預測方塊中哪一個與該參考方塊有一較佳相符之步驟更包含:判定一目前圖框是否為圖像內預測;以及若該目前圖框為圖像內預測,則利用一共軛梯度下降搜尋判定該複數個預測方塊中哪一個為該較佳相符。 3.如申請專利範圍第1項之判定描述相對於該參考方塊之移動的該移動向量的方法,其中該判定複數個預測方塊中哪一個與該參考方塊有一較佳相符之步驟更包含:判定一目前圖框是否為圖像間預測;以及若該目前圖框為圖像間預測,則搜尋該參考方塊周圍的鄰近方塊以判定該複數個預測方塊中哪一個為該較佳相符。 4.如申請專利範圍第1項之判定描述相對於該參考方塊之移動的該移動向量的方法,更包含:從該較佳相符預測方塊對角地位置的一組4個方塊,執行該局部區域徹底搜尋。 5.如申請專利範圍第1項之判定描述相對於該參考方塊之移動的該移動向量的方法,其中該分析地判定該二次表面的該最小值之步驟更包含:判定一第一方向之該最小值;判定垂直於該第一方向之一第二方向之該最小值。 6.如申請專利範圍第1項之判定描述相對於該參考方塊之移動的該移動向量的方法,其中分析地判定該二次表面的一最小值之步驟更包含:計算該最佳相符預測方塊之鄰近方塊之一絕對差值加總值。 7.如申請專利範圍第1項之判定描述相對於該參考方塊之移動的該移動向量的方法,其中分析地判定該二次表面的一最小值之步驟更包含:計算複數個方塊之一絕對差值加總值,該複數個方塊之中一第一個在一第一方向鄰近於該最佳相符預測方塊,該複數個方塊剩下的方塊分別鄰近於該複數個方塊中之另一個。 8.如申請專利範圍第1項之判定描述相對於該參考方塊之移動的該移動向量的方法,其中分析地判定該二次表面的一最小值之步驟更包含:計算複數個方塊之一絕對差值加總值,且


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專利資訊及圖示來源: 中華民國專利資訊檢索系統