交越電壓之測試電路及其測試方法
申請人· 盛群半導體股份有限公司 HOLTEK SEMICONDUCTOR INC. 新竹市科學工業園區研新二路3號


專利信息

專利名稱 交越電壓之測試電路及其測試方法
公告號 200742859
公告日
證書號
申請號 2006/05/02
國際專利分類號
公報卷期 05-22
發明人 王明堂;蕭祝瓜
申請人 盛群半導體股份有限公司 HOLTEK SEMICONDUCTOR INC. 新竹市科學工業園區研新二路3號
代理人 王雲平
優先權
參考文獻
審查人員

專利摘要

交越電壓之測試電路及其測試方法簡圖

一種交越電壓之測試電路及其測試方法,係利用一電壓訊號由上往下或由下往上掃描差動訊號,即可偵測出此差動訊號的交越電壓。此外,利用規格中的上限電壓與下限電壓,在只輸入差動訊號一次的情況下,即可判斷差動訊號是否合乎規格,以縮短測試時間、降低成本以及測試電路的體積。


專利範圍

1.一種交越電壓之測試電路,包含:一外部信號控制與接收電路;一電壓供應單元,其連結於該外部信號控制與接收電路,用以根據該外部信號控制與接收電路之設定,來提供一電壓訊號;一電壓比較單元,其連結於該電壓供應單元及一對資料線,用以由該些資料線上擷取一差動訊號,及由該電壓供應單元內擷取該電壓訊號,並產生複數個輸出訊號及複數個反向輸出訊號;以及一閂鎖單元,其連結於該電壓比較單元,至少包含一邏輯電路,用以根據該些輸出訊號及該些反向輸出訊號來閂鎖該電壓比較單元之輸出,並產生一邏輯訊號及一反向邏輯訊號至該外部訊號控制與接收單元;其中,該外部信號控制與接收電路根據該邏輯訊號及該反向邏輯訊號,來控制設定該電壓訊號的大小,以及判斷該差動訊號之一交越電壓係在該電壓訊號之上或下,以偵測出該交越電壓的值。
2.如申請專利範圍第1項所述之交越電壓之測試電路,其中該電壓比較單元包含一第一比較器及一第二比較器,該第一比較器進一步包含一第一輸入端、一第一反向輸出端、一第一輸出端及一第一反向輸出端,該第二比較器進一步包含一第二輸入端、一第二反向輸入端、一第二輸出端及一第二反向輸出端。
3.如申請專利範圍第2項所述之交越電壓之測試電路,其中該第一輸入端及該第一反向輸入端連結於該些資料線,用以接收該差動訊號,該第一輸出端及該第一反向輸出端分別用以輸出一第一輸出訊號及一第一反向輸出訊號,以提供該些輸出訊號及該些反向輸出訊號。
4.如申請專利範圍第2項所述之交越電壓之測試電路,其中該第二輸入端連結於該些資料線中之其中一個,用以接收該差動訊號之一輸入訊號或一反向輸入訊號,該第二反向輸入端連結於該電壓供應單元,用以接收該電壓訊號,該第二輸出端及該第二反向輸出端分別用以輸出一第二輸出訊號及一第二反向輸出訊號,來提供該些輸出訊號及該些反向輸出訊號。
5.如申請專利範圍第2項所述之交越電壓之測試電路,其中該邏輯電路包含一資料端、一時脈端。
6.如申請專利範圍第5項所述之交越電壓之測試電路,其中該資料端連結於該第一反向輸出端,該時脈端連結於該第二輸出端。
7.如申請專利範圍第5項所述之交越電壓之測試電路,其中該資料端連結於該第二輸出端,該時脈端連結於該第一反向輸出端。
8.如申請專利範圍第1項所述之交越電壓之測試電路,其中該邏輯電路係為一正反器。
9.一種交越電壓之測試電路,包含:一外部信號控制與接收電路;一電壓供應單元,其連結於該外部信號控制與接收電路,用以根據該外部信號控制與接收電路之設定,來提供一第一電壓訊號及一第二電壓訊號;一電壓比較單元,其連結於該電壓供應單元及一對資料線,用以由該些資料線上擷取一差動訊號,及由該電壓供應單元內擷取該第一電壓訊號及該第二電壓訊號,並產生複數個輸出訊號及複數個反向輸出訊號;以及一閂鎖單元,其連結於該電壓比較單元,包含複數個邏輯電路,用以根據該些輸出訊號及該些反向輸出訊號來閂鎖該電壓比較單元之輸出,並產生複數個邏輯訊號及複數個反向邏輯訊號至該外部訊號控制與接收單元;其中,該外部信號控制與接收電路根據該邏輯訊號及該反向邏輯訊號,來控制設定該電壓訊號的大小,以及判斷該差動訊號之一交越電壓係在該電壓訊號之上或下,以偵測出該交越電壓的值。
10.如申請專利範圍第9項所述之交越電壓之測試電路,其中該電壓比較單元包含一第一比較器、一第二比較器及一第三比較器,該第一比較器進一步包含一第一輸入端、一第一反向輸出端、一第一輸出端及一第一反向輸出端,該第二比較器進一步包含一第二輸入端、一第二反向輸入端、一第二輸出端及一第二反向輸出端,該第三比較器進一步包含一第三輸入端、一第三反向輸入端、一第三輸出端及一第三反向輸出端。
11.如申請專利範圍第10項所述之交越電壓之測試電路,其中該第三輸入端及該第三反向輸入端連結於該些資料線,用以接收該差動訊號,該第三輸出端及該第三反向輸出端分別用以輸出一第三輸出訊號及一第三反向輸出訊號,以提供該些輸出訊號及該些反向輸出訊號。
12.如申請專利範圍第10項所述之交越電壓之測試電路,其中該第一輸入端連結於該電壓供應單元,用以接收該第一電壓訊號,該第一反向輸入端連結於該些資料線中之其中一個,用以接收該差動訊號之一輸入訊號,該第一輸出端及該第一反向輸出端分別用以輸出一第一輸出訊號及一第一反向輸出訊號,來提供該些輸出訊號及該些反向輸出訊號。
13.如申請專利範圍第10項所述之交越電壓之測試電路,其中該第二輸入端連結於該些資料線中之其中一個,用以接收該差動訊號之一反向輸入訊號,該第二反向輸入端連結於該電壓供應單元,用以接收該第二電壓訊號,該第二輸出端及該第二反向輸出端分別用以輸出一第二輸出訊號及一第二反向輸出訊號,來提供該些輸出訊號及該些反向輸出訊號。
14.如申請專利範圍第10項所述之交越電壓之測試電路,其中該些邏輯電路分別為一第一邏輯電路及一第二邏輯電路,該第一邏輯電路包含一第一資料端及一第一時脈端,該第二邏輯電路則包含一第二資料端及一第二時脈端。
15.如申請專利範圍第14項所述之交越電壓之測試電路,其中該第一資料端連結於該第一輸出端,該第一時脈端連結於該第三輸出端。
16.如申請專利範圍第14項所述之交越電壓之測試電路,其中該第二資料端連結於該第二輸出端,該第二時脈端連結於該第三輸出端。
17.如申請專利範圍第9項所述之交越電壓之測試電路,其中該些邏輯電路係為正反器。
18.如申請專利範圍第9項所述之交越電壓之測試電路,其中該第一電壓訊號係為一上限電壓,該第二電壓訊號係為一下限電壓。
19.一種交越電壓之測試方法,其步驟包含:設定一電壓供應單元內之至少一電壓訊號;輸入一差動訊號及該電壓訊號至一電壓比較單元,以產生複數個輸出訊號及複數個反向輸出訊號,來提供一資料訊號及一時脈訊號;根據該資料訊號與該時脈訊號,決定至少一個邏輯訊號及至少一個反向邏輯訊號;根據該邏輯訊號及該反向邏輯訊號,判斷該差動訊號之一交越電壓的值;以及根據該邏輯訊號及該反向邏輯訊號,判斷該交越電壓大於該電壓訊號,或小於等於該電壓訊號。
20.如申請專利範圍第19項所述之交越電壓之測試方法,其中當該邏輯訊號為零,及該反向邏輯訊號為一時,表示該交越電壓大於該電壓訊號,當該邏輯訊號為一,該反向邏輯訊號為零時,表示該交越電壓小於該電壓訊號,當該邏輯訊號由零變一,該反向邏輯訊號由一變零時,且該些輸出訊號及該些反向輸出訊號的變動時間與該交越電壓的時間點相同,表示該電壓訊號等於該交越電壓。
21.如申請專利範圍第20項所述之交越電壓之測試方法,其中當該交越電壓小於該電壓訊號時,增加該電壓訊號之值,當該交越電壓大於該電壓訊號時,降低該電壓訊號之值,以進一步根據下一筆的該資料訊號及該時脈訊號,來判斷該交越電壓的值。
22.如申請專利範圍第19項所述之交越電壓之測試方法,其中當該邏輯訊號為一,及該反向邏輯訊號為零時,表示該交越電壓大於該電壓訊號,當該邏輯訊號為零,該反向邏輯訊號為一時,表示該交越電壓小於該電壓訊號,當該邏輯訊號由一變零,該反向邏輯訊號由零變一時,且該些輸出訊號及該些反向輸出


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專利資訊及圖示來源: 中華民國專利資訊檢索系統