用於多層快閃記憶體之系統錯誤校正 SYSTEMATIC ERROR CORRECTION FOR MULTI-LEVEL FLASH MEMORY
申請人· 艾基爾系統公司 AGERE SYSTEMS INC. 美國


專利信息

專利名稱 用於多層快閃記憶體之系統錯誤校正
公告號 200919478
公告日
證書號
申請號 2007/12/25
國際專利分類號
公報卷期 07-09
發明人 羅斯A 寇樂 KOHLER, ROSS A.;理查J 麥帕藍 MCPARTLAND, RICHARD J.;威耐E 威爾諾 WERNER, WAYNE E.
申請人 艾基爾系統公司 AGERE SYSTEMS INC. 美國
代理人 陳長文
優先權 世界智慧財產權組織 PCT/US07/83162 20071031
參考文獻
審查人員

專利摘要

根據示例性實施例,當讀取多層快閃記憶體時,多層快閃記憶體使用系統錯誤之錯誤校正。錯誤校正包含i)檢測每個系統錯誤,ii)將系統錯誤反饋到該記憶體內之電路,iii)隨後調整該電路促成在該多層快閃記憶體輸出信號中之系統錯誤之校正。


專利範圍

1.一種用於系統錯誤之錯誤校正之方法,該錯誤係自一多層單元(MLC)記憶體之資料讀出,該方法包括下列步驟:從該MLC記憶體讀取校準資料;比較該讀取校準資料和校正校準資料;檢測基於該比較之該讀取校準資料中之系統錯誤;確定該等系統錯誤之漂移;產生一個或多個基於該確定漂移之反饋信號;及校正基於該一個或多個反饋信號之該漂移。 2.根據請求項1之方法,其中該檢測該等系統錯誤之漂移之步驟檢測至少一個感測放大器輸出漂移和輸出信號漂移。 3.根據請求項2之方法,其中該產生一個或多個反饋信號之步驟產生一個多工器反饋信號,以及該校正該漂移之步驟包括應用該多工器反饋信號到一多工器和校正該多工器之輸出信號漂移之步驟。 4.根據請求項2之方法,其中該產生一個或多個反饋信號之步驟產生一個感測放大器反饋信號,以及該校正該漂移之步驟包括應用該感測放大器反饋信號到複數個感測放大器之至少一個和校正該感測放大器之感測放大器輸出漂移。 5.根據請求項2之方法,其中該產生一個或多個反饋信號之步驟產生一個MLC驅動器反饋信號,以及該校正該漂移之步驟包括應用該MLC驅動器反饋信號到MLC之一個列驅動器。 6.根據請求項1之方法,其中該方法還包括下列步驟:讀取該MLC記憶體中之一段儲存資料;及應用錯誤校正到該段儲存資料之一子串列。 7.一種用於系統錯誤之錯誤校正之裝置,該錯誤係自一多層單元(MLC)記憶體之資料讀出,該裝置包括:一個誤差處理器,其適用於:i)從該MLC記憶體讀取校準資料;ii)比較該讀取校準資料和校正校準資料;iii)檢測基於該比較之該讀取校準資料中之系統錯誤;及iv)確定該等系統錯誤之漂移;及錯誤校正控制電路(ECCC),其耦合到該誤差處理器,其中該ECCC適合產生一個或多個基於該確定之漂移之反饋信號,用於基於該一個或多個反饋信號之該漂移之校正。 8.根據請求項7之裝置,其中:該多層單元(MLC)記憶體包含一個具有複數個MLC之記憶體陣列、一個多工器以及放置在該記憶體陣列和該多工器之間之複數個感測放大器;該誤差處理器被耦合到多工器以讀取該校準資料;及該ECCC被耦合到該記憶體陣列、該複數個感測放大器和該多工器之至少一個,。 9.根據請求項8之裝置,其中該多工器是一個類比多工器以及該複數個感測放大器之每個產生一個代表一個電荷位準之類比輸出值,其對應於一個對應於複數個MLC中之一個之位元值。 10.


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專利資訊及圖示來源: 中華民國專利資訊檢索系統